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Prüfplatz auf Basis eines „Atomic Force Microscope“ zur kontaktlosen Messung von Subnanosekunden-Signalen Demonstration des industriellen, produktfähigen Einsatzes Termingerechte Bereitstellung des Prüfplatzes Demonstration der Funktionsfähigkeit bei einem großen Endkunden in USA Bild: Suss Microtec Referenz...    Erkennung von Problempunkten und Durchführung systematischer Verbesserungen (z.B. Taktversorgung des Systems) Durchführung vieler Messreihen mit konsequenten Verbesserungen „kleiner Schritte“, bis zur Demonstrationsreife Ständiges Feedback zum Auftraggeber, systematisches Berichtswesen Das Ergebnis: Erfolgreiche Präsentation bei einem großen Pilotkunden in USA Zurück...